EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该仪器利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率；  采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。

仪器特点： 

可用作的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。

内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。

针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。

电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。

智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

主要参数：

测量元素范围：从钠(Na)至铀(U)

元素含量分析范围：1ppm ~ 99.99%

同时分析元素：24种元素同时分析

测量镀层：镀层厚度测量最薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层

分析精度：0.05%

测量对象状态：粉末、固体、液体

测量时间：60s ~ 200s

能量分辨率为：(150±5)eV

管压：5KV ~ 50KV

管流：50uA ~ 1000uA